SURTRONIC S128是英國泰勒霍普森 (Taylor Hobson) 公司推出的便攜式表面粗糙度測量儀，屬于 Surtronic S100 系列，是經(jīng)典型號 Surtronic 25 的升級版。作為該系列的型號，S128 相比 S116 提供了更寬的測量范圍和更強的分析能力，被譽為 "移動實驗室級" 的表面粗糙度測量解決方案。

核心特點與技術(shù)參數(shù)

測量能力

測量范圍：400μm/100μm/10μm 三檔可選（S116 僅 200μm/100μm/10μm）

分辨率：50nm/10nm/5nm，能捕捉微小表面紋理變化

測量參數(shù)：可測30 多種國際標準參數(shù)，包括：

基礎(chǔ)參數(shù)：Ra (算術(shù)平均粗糙度)、Rz (十點高度)、Rt (輪廓高度)

功能參數(shù)：Rsk (偏態(tài)系數(shù))、Rku (峰態(tài)系數(shù))、Rmr (材料比曲線)

精度：Ra 測量誤差≤±(2%+0.004μm)，單次測量誤差≤±3%

便攜與耐用設計

尺寸：約 150×85×55mm，重量僅 650g（含電池），一手掌握

防護：抗沖擊橡膠機身，適合車間惡劣環(huán)境

顯示屏：4.3 英寸彩色觸摸屏，操作直觀

電池：內(nèi)置鋰電池，一次充電可測 2000 次，待機 5000 小時