泰勒DUO廠家

Surtronic Duo II 泰勒霍普森粗糙度儀手持式表面粗糙度測(cè)量儀被廣泛用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、工業(yè)廠房和檢測(cè)室。Surtronic Duo II 泰勒霍普森粗糙度儀可用于評(píng)估地面的安全性，也可幫助地面材料制造商控制生產(chǎn)過程中的粗糙度。它可靠、耐用、快速、易于使用，并且只需很少的培訓(xùn)。Surtronic Duo II 泰勒霍普森粗糙度儀數(shù)字式表面粗糙度測(cè)量儀專門用于測(cè)量表面粗糙度，可與 HSE 滑倒評(píng)估軟件結(jié)合使用，以檢查地面的粗糙度。Surtronic 表面粗糙度測(cè)量儀的分辨率為 0.01 µm（0.4 µin），采用的粗糙度標(biāo)準(zhǔn)為 ISO 4287。

Surtronic Duo II 泰勒霍普森粗糙度儀是一種高級(jí)便攜式表面粗糙度測(cè)量儀，只需按一鍵即可測(cè)量多個(gè)粗糙度參數(shù)。這些參數(shù)（如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt）會(huì)顯示在直觀的2.4英寸LCD彩色屏幕上。使用充電電池，便于在所有環(huán)境和表面進(jìn)行快速、輕松和精確的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。